原子力顯微鏡（AFM）

AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力，所以又被稱為原子力顯微鏡。

AFM 可適用于各種的材料及產(chǎn)品分析，如金屬材料、高分子聚合物等，并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境，進(jìn)行不同物性分析，所以AFM 最大的特點是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作，因此，AFM 在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有廣泛的應(yīng)用。

原子力顯微鏡（AFM）

| 項目概述

AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力，所以又被稱為原子力顯微鏡。AFM 可適用于各種的材料及產(chǎn)品分析，如金屬材料、高分子聚合物等，并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環(huán)境，進(jìn)行不同物性分析，所以AFM 最大的特點是其在空氣中或液體環(huán)境中都可以操作，因此，AFM 在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有廣泛的應(yīng)用。根據(jù)針尖與樣品材料的不同及針尖－樣品距離的不同，針尖與樣品之間的作用力可以是原子間斥力、范德瓦爾斯吸引力、彈性力、粘附力、磁力和靜電力以及針尖在掃描時產(chǎn)生的摩擦力。通過控制并檢測針尖與樣品之間的這些作用力，不僅可以高分辨率表征樣品表面形貌，還可分析與作用力相應(yīng)的表面性質(zhì)：摩擦力顯微鏡可分析研究材料的摩擦系數(shù)；磁力顯微鏡可研究樣品表面的磁疇分布，成為分析磁性材料的強有力工具；利用電力顯微鏡可分析樣品表面電勢、薄膜的介電常數(shù)和沉積電荷等。另外，AFM 還可對原子和分子進(jìn)行操縱、修飾和加工，并設(shè)計和創(chuàng)造出新的結(jié)構(gòu)和物質(zhì)。

| 測試目的

1、表面形貌：能夠直接觀測樣品的表面形態(tài)和粗糙度。

2、物理性質(zhì)：如力學(xué)性質(zhì)、硬度、粘彈性等。

3、粗糙度參數(shù)：包括Ra、Rq、Rz等。

4、顆粒度和孔結(jié)構(gòu)：可以分析樣品的顆粒度、孔徑分布等。

5、壓縮楊氏模量：測量材料的彈性特性。

| 測試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 31227

| 服務(wù)產(chǎn)品/領(lǐng)域

AFM是一種重要的納米級表征技術(shù)，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、生物學(xué)等領(lǐng)域；

在晶體生長、作用力的研究等方面也有廣泛的應(yīng)用。

| 美信優(yōu)勢

1、專業(yè)團(tuán)隊：擁有多名經(jīng)驗豐富的檢測工程師和技術(shù)專家。

2、先進(jìn)設(shè)備：配備國際領(lǐng)先的檢測設(shè)備，確保檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

3、高效服務(wù)：快速響應(yīng)客戶需求，可檢測適用各種材料，高效快速獲得真實準(zhǔn)確的掃描圖像。

4、權(quán)威認(rèn)證：實驗室通過ISO/IEC 17025認(rèn)證，檢測報告具有國際公信力。

常見問題

常規(guī)樣品要求？

1. 樣品狀態(tài)：可為粉末、塊體、薄膜樣品；
2. 粉末樣品：常規(guī)測試項目樣品起伏一般不超過5微米，特殊測試項目樣品起伏一般不超過1um，提供20mg，液體不少于1ml；
3. 粉末/液體樣品請務(wù)必備注好制樣條件，包括分散液，超聲時間及配制濃度；
4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求：長寬0.5-3cm之間，厚度0.1-1cm之間，表面粗糙度不超過5um，一定要標(biāo)明測試面！塊狀樣品需要固定好，避免在寄送過程產(chǎn)生晃動或摩擦影響測試結(jié)果！
5. 測試PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要將樣品制備在導(dǎo)電基底上，基底大小符合塊狀樣品的尺寸要求，KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的樣品需要導(dǎo)電或至少為半導(dǎo)體；
6. PFM，KPFM測試需要樣品表面十分平整，樣品粗糙度最好在10-200nm之間，粉末樣品測試很難測到較好結(jié)果，下單前請確保風(fēng)險可接受。

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